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服務(wù)能力

武漢金測(cè)實(shí)驗(yàn)室擁有50L的HASA試驗(yàn)箱及應(yīng)力篩選系統(tǒng)，可對(duì)潮濕環(huán)境下非密封封裝器件進(jìn)行可靠性評(píng)估。利用嚴(yán)酷的溫度，濕度及偏置條件來加速水穿過外部保護(hù)材料或者沿外部保護(hù)材料-金屬導(dǎo)體界面滲入，UHAST是不加偏置電壓，以確保能夠發(fā)現(xiàn)可能被偏壓掩蓋的失效機(jī)理（如電偶腐蝕）。

適用范圍

本測(cè)試適用于電工電子產(chǎn)品及其電子部件、印制電路板組件等。對(duì)于大型整機(jī),宜優(yōu)先考慮在前端的裝配級(jí)別(如印制電路板組件、子模塊)上進(jìn)行試驗(yàn)。還適用于電工電子產(chǎn)品的研發(fā)、設(shè)計(jì)和(或)試產(chǎn)階段,也可用于批量生產(chǎn)階段。

相關(guān)資質(zhì)

CNAS

設(shè)備能力

溫度105℃～143℃±0.3 ℃、濕度75%RH～100%RH±3%RH、壓力1.2kg/cm2～4.0kg/cm2

測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 29309-2012 《電工電子產(chǎn)品加速應(yīng)力試驗(yàn)規(guī)程高加速壽命試驗(yàn)導(dǎo)則》 

GMW 8287 Revision / Edition: 2 《HIGHLY ACCELERATED LIFE TESTING (HALT) HIGHLY ACCELERATED STRESS SCREENING AND AUDITING》

試驗(yàn)照片

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  試驗(yàn)設(shè)備

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  試驗(yàn)過程

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  試驗(yàn)曲線