高低溫試驗(yàn)又稱高低溫循環(huán)測(cè)試，是環(huán)境可靠性測(cè)試中的一項(xiàng)，電路板需要進(jìn)行高溫、低溫循環(huán)的試驗(yàn)，以檢測(cè)和篩選相應(yīng)的可靠性能力?；旧纤械漠a(chǎn)品都是在一定的溫度環(huán)境下存儲(chǔ)保存，或者工作運(yùn)行。

某些環(huán)境中，溫度會(huì)有時(shí)高，有時(shí)低，這種不斷變化的溫度環(huán)境會(huì)影響產(chǎn)品的功能、性能、質(zhì)量和使用壽命，加速產(chǎn)品的老化，縮短產(chǎn)品的使用壽命。如果產(chǎn)品長(zhǎng)時(shí)間處于這種交替變化大的高溫和低溫環(huán)境中，需要有足夠的能力來(lái)抵抗高溫和低溫循環(huán)。

一、電路板高低溫試驗(yàn)怎么做？

電路板進(jìn)行85度高溫連續(xù)測(cè)試2個(gè)小時(shí)，然后在-40℃的地方持續(xù)測(cè)試兩個(gè)小時(shí)，這樣的測(cè)試程序要連續(xù)完成20個(gè)回合。進(jìn)行類(lèi)似的試驗(yàn)，只要在高低溫試驗(yàn)箱的控制系統(tǒng)上輸入相應(yīng)的測(cè)試程序，即可自行智能化運(yùn)行20個(gè)回合，甚至更多。

二、電路板高低溫測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)：

GB_T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫

GBT 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫

IEC 60068-2-2 基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 第2-2部分:試驗(yàn) 試驗(yàn)B:干熱

IEC 60068-2-1：2007電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)：低溫

三、應(yīng)用范圍：

電子、元器件、電路板、通訊、LED、液晶屏、儀器儀表、電容、車(chē)輛、醫(yī)藥、塑膠、金屬、化學(xué)、建材等行業(yè)產(chǎn)品。

高低溫試驗(yàn)箱主要能夠展開(kāi)以下項(xiàng)目試驗(yàn)

四、高溫試驗(yàn)

意圖：用來(lái)查核試驗(yàn)樣品在高溫條件下儲(chǔ)存或運(yùn)用的適應(yīng)性。應(yīng)用于比如像熱帶天氣或煉鋼廠等高溫環(huán)境下作業(yè)的儀器、設(shè)備等。

試驗(yàn)設(shè)備：高低溫（濕熱）試驗(yàn)箱。

試驗(yàn)條件：一般選定一穩(wěn)定的溫度應(yīng)力和堅(jiān)持時(shí)刻。

優(yōu)選常用溫度：200℃，175℃，155℃，125℃，100℃，85℃，70℃，55℃等；

優(yōu)選常用的試驗(yàn)時(shí)刻有：2h，16h，72h，96h等。

五、低溫試驗(yàn)

意圖：用來(lái)查核實(shí)驗(yàn)樣品在低溫條件下儲(chǔ)存或運(yùn)用的適應(yīng)性。常用于產(chǎn)品在開(kāi)發(fā)階段的型式試驗(yàn)、元器件的挑選試驗(yàn)等。

試驗(yàn)設(shè)備：高低溫（濕熱）試驗(yàn)箱

試驗(yàn)條件：一般選定一穩(wěn)定的溫度和試驗(yàn)時(shí)刻。

優(yōu)選常用的溫度有：- 65℃，-55℃，-40℃，-25℃，-10℃，-5℃，+5℃等；

優(yōu)選常用的試驗(yàn)時(shí)刻有：2h，16h，72h，96h等。

六、武漢金測(cè)實(shí)驗(yàn)室試驗(yàn)設(shè)備

內(nèi)箱尺寸（D*W*H）：100*100*100cm

箱體內(nèi)容積：1000L

溫度范圍：-70℃～150℃

濕度范圍（百分比）：25～95RH

升溫速率：-70℃～150℃：3.5℃/min（30kg鋁錠）； 

降溫速率：+150℃～-70℃：1.5℃/min（30kg鋁錠）；

限值 大電熱負(fù)載：(60℃，百分比95RH)，2000W