一般來說為了評價分析電子產(chǎn)品可靠性而進行的試驗稱為可靠性試驗，是為預測從產(chǎn)品出廠到其使用壽命結(jié)束期間的質(zhì)量情況，選定與市場環(huán)境相似度較高的環(huán)境應力后，設定環(huán)境應力程度與施加的時間，主要目的是盡可能在短時間內(nèi)，正確評估產(chǎn)品可靠性。

　　一、常規(guī)電工電子可靠性檢測項目及檢測標準有哪些？

　　1.低溫試驗 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗A：低溫GB/T2423.1-2008，IEC60068-2-1:2007

　　2.高溫試驗 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗B：高溫GB/T2423.2-2008 ，IEC60068-2-2:2007

　　3.恒定濕熱試驗 環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Cy: 恒定濕熱主要用于元件的加速試驗 GB/T2423.50-2012，IEC60068-2-67:1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分： 試驗方法 試驗Cab：恒定濕熱試驗 GB/T 2423.3-2006，IEC 60068-2-78：2001

　　4.交變濕熱試驗 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分 試驗方法 試驗Db：交變濕熱(12h+12h循環(huán)) GB/T2423.4-2008，IEC 60068-2-30:2005

　　5.振動試驗 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗Fi: 振動 混合模式 GB/T 2423.58-2008，IEC 60068-2-80:2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Fh：寬帶隨機振動(數(shù)字控制)和導則 GB/T 2423.56-2006，IEC 60068-2-64:1993 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Fc和導則：振動(正弦) GB/T 2423.10-2008，IEC 60068-2-6:1995

　　6.溫度變化 環(huán)境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗N: 溫度變化 GB/T 2423.22-2012，IEC 60068-2-14:2009

　　7.溫度/濕度組合循環(huán) 環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Z/AD：溫度/濕度組合循環(huán)試驗 GB/T 2423.34-2012，IEC 60068-2-38:2009

　　8.跌落 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Ed:自由跌落 GB/T 2423.8-1995，IEC 60068-2-32:1990

　　9.機械沖擊 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Ea和導則:沖擊 GB/T 2423.5-1995，IEC 60068-2-27:1987

　　10.碰撞 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Eb和導則:碰撞 GB/T 2423.6-1995 ，IEC 60068-2-29:1987

　　11.傾跌與翻倒 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Ec和導則:傾跌與翻倒 (主要用于設備型樣品) GB/T 2423.7-1995，IEC 60068-2-31:1982

　　12.砂塵 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗L：沙塵試驗 GB/T 2423.37-2006，IEC 60068-2-68:1994

　　13.鹽霧 人造氣氛腐蝕試驗 鹽霧試驗 GB/T 10125-2012，ISO 9227:2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗Ka：鹽霧 GB/T 2423.17-2008，IEC60068-2-11:1981

　　14.溫度沖擊 環(huán)境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗N: 溫度變化 GB/T 2423.22-2012，IEC 60068-2-14:2009

　　15.外殼防護 外殼防護等級(IP代碼) GB 4208-2008，IEC 60529:2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗R：水試驗方法和導則 GB/T 2423.38-2008，IEC 60068-2-18:2000

　　16.低溫/振動(正弦)綜合試驗

　　電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Z/AFc：散熱和非散熱試驗樣品的低溫/振動(正弦)綜合試驗 GB/T 2423.35-2005，IEC 60068-2-50:1983

　　17.高溫/振動(正弦)綜合試驗

　　電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Z/BFc：散熱和非散熱試驗樣品的高溫/振動(正弦)綜合試驗 GB/T 2423.36-2005，IEC 60068-2-51:1983

　　18.溫度(低溫、高溫)/低氣壓/振動(隨機)綜合 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Z/ABMFh：溫度(低溫、高溫)/低氣壓/振動(隨機)綜合 GB/T 2423.59-2008

　　19.(低溫、高溫)/低氣壓/振動(正弦)綜合GB/T 2423.102-2008

　　20.可靠性試驗 設備可靠性試驗 恒定失效率假設下的失效率與平均無故障時間的驗證試驗方案 GB/T 5080.7-1986，IEC 60605-7:1978 設備可靠性試驗 恒定失效率假設的有效性檢驗 GB/T 5080.6-1996 ，IEC 60605-6:1989 設備可靠性試驗成功率的驗證試驗方案 GB/T 5080.5-1985 ，IEC 60605-5:1982 設備可靠性試驗 可靠性測定試驗的點估計和區(qū)間估計方法 (指數(shù)分布) GB/T 5080.4-1985，IEC 60605-4:1978 可靠性試驗 第2部分：試驗周期設計 GB/T 5080.2-2012，IEC 60605-2:1994 可靠性試驗 第1部分：試驗條件和統(tǒng)計檢驗原理 GB/T 5080.1-2012，IEC 60300-3-5:2001

 　　武漢金測實驗室完全按照ISO/IEC17025：2005《檢測和校準實驗室能力的通用要求》(CNAS-CL01)《檢測和校準實驗室能力認可準則》)的要求開展測試服務，秉承：管理科學，公平公正;操作規(guī)范，數(shù)據(jù)準確；安全保密，廉潔自律的質(zhì)量方針和第三方公正實驗室的職業(yè)道德，熱誠為國內(nèi)客戶提供標準、檢測、認證工作的全方位服務。