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電子產品高低溫國標試驗哪里可以做?

作者: 發(fā)布日期:2023-07-26

高低溫試驗箱產品具有模擬大氣環(huán)境中溫度變化規(guī)律。主要針對于電工、電子產品,以及其元器件及其它材料在高溫,低溫綜合環(huán)境下運輸,使用時的適應性試驗。用于產品設計,改進,鑒定及檢驗等環(huán)節(jié)。電子產品高低溫國標試驗哪里可以做?
 
一、溫度波動度
  這個指標也有叫溫度穩(wěn)定度,控制溫度穩(wěn)定后,在給定任意時間間隔內,工作空間內任一點的羅高和較低溫度之差。這里有個小小的區(qū)別“工作空間”并不是“工作室”,是大約去掉離箱壁各自邊長的1/10的一個空間。這個指標考核產品的控制技術。
 
二、溫度范圍
  指產品工作室能耐受和(或)能達到的頂限溫度。通常含有能控制恒定的概念,應該是可以相對長時間穩(wěn)定運行的頂值。一般溫度范圍包括頂限高溫和頂限低溫。
  一般標準要求指標為≤1℃或±0.5℃。
 
三、溫度均勻:
  舊標準稱均勻度,新標準稱梯度。溫度穩(wěn)定后,在任意時間間隔內,工作空間內任意兩點的溫度平均值之差的較大值。這個指標比下面的溫度偏差指標更可以考核產品的核心技術,因此好多公司的樣本及方案刻意隱藏此項。
  一般標準要求指標為≤2℃。
 
四、溫度偏差
溫度穩(wěn)定后,在任意時間間隔內,工作空間中間溫度的平均值和工作空間內其它點的溫度平均值之差。雖然新舊標準對此指標的定義和稱呼相同,但檢測已有所改變,新標準更實際,更苛刻一點,但考核時間短點。
 
GB_T 2423.2-2008 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗B:高溫
GBT 2423.1-2008 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗A:低溫
IEC 60068-2-2 基本環(huán)境試驗規(guī)程 第2-2部分:試驗 試驗B:干熱
IEC 60068-2-1:2007電工電子產品環(huán)境試驗:低溫
 
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