高低溫試驗(yàn)箱是工業(yè)企業(yè)中使用較常見的環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備,試驗(yàn)的目的是模擬考核整機(jī)設(shè)備、零部件、電子元器件等,在高低溫環(huán)境試驗(yàn)條件下對(duì)環(huán)境的耐受性及環(huán)境的適應(yīng)性能力。那高低溫試驗(yàn)的常用標(biāo)準(zhǔn)有哪些?下面武漢金測(cè)小編帶大家了解下。
高低溫試驗(yàn)應(yīng)用領(lǐng)域廣泛,可用于電子電氣元件、光通信電子、汽車電子元件、軍事裝備及用品、金屬等行業(yè)。
高低溫試驗(yàn)箱可以真正考核該設(shè)備的低溫和高溫的適應(yīng)性,供給產(chǎn)品的環(huán)境可靠性;適應(yīng)市場(chǎng)的需要,很多場(chǎng)合都是需要提供高低 溫試驗(yàn)檢測(cè)報(bào)告的。
高低溫試驗(yàn)的常用標(biāo)準(zhǔn)有哪些?主要包括以下這些:
GB_T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)B:高溫
GBT2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)A:低溫
IEC60068-2-2基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程第2-2部分:試驗(yàn)試驗(yàn)B:干熱
IEC60068-2-1:2007電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn):低溫
GJB150.3A-2009
GJB150.4A-2009
GJB 4.3-1983
GJB 4.2-1983
GJB 4.4-1983
JESD22-A103E:2015
二、高低溫試驗(yàn)分為:高溫工作、高溫貯存、低溫工作和低溫貯存四種類別。
1、高溫工作試驗(yàn):在高溫環(huán)境條件下,受試設(shè)備處于正常工作狀態(tài)下,高溫試驗(yàn)期間,設(shè)備不應(yīng)發(fā)生異常;
2、低溫工作試驗(yàn):在低溫環(huán)境條件下,受試設(shè)備處于正常工作狀態(tài)下,低溫試驗(yàn)期間,設(shè)備不應(yīng)發(fā)生異常;
3、高溫貯存試驗(yàn):在高溫環(huán)境條件下,受試設(shè)備處于斷電狀態(tài),高溫試驗(yàn)以后,設(shè)備各項(xiàng)性能指標(biāo)正常;
4、低溫貯存試驗(yàn):在低溫環(huán)境條件下,受試設(shè)備處于斷電狀態(tài),低溫試驗(yàn)以后,設(shè)備各項(xiàng)性能指標(biāo)正常。
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