電子元器件是整機(jī)的基礎(chǔ)，它在制造過(guò)程中可能會(huì)由于本身固有的缺陷或制造工藝的控制不當(dāng)，可能會(huì)導(dǎo)致與時(shí)間或應(yīng)力相關(guān)的故障。為了保證整批元器件的可靠性，滿(mǎn)足整機(jī)要求，必須把使用條件下可能出現(xiàn)初期失效的元器件剔除。
      元器件的失效率隨時(shí)間變化的過(guò)程可以用類(lèi)似“浴盆曲線(xiàn)”的失效率曲線(xiàn)來(lái)描述，早期失效率隨時(shí)間的增加而迅速下降，使用壽命期（或稱(chēng)偶然失效期）內(nèi)失效率基本不變。

 
      恒溫恒濕試驗(yàn)箱用于電子電器零組件、自動(dòng)化零部件、通訊組件、汽車(chē)配件、金屬、化學(xué)材料、塑膠等行業(yè)，國(guó)防工業(yè)、航天、兵工業(yè)、BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導(dǎo)體陶瓷及高分子材料之物理特變化，測(cè)試其材料對(duì)高、低溫的反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害，可確認(rèn)產(chǎn)品的品質(zhì)，從精密的IC到重機(jī)械的組件都會(huì)用到，是各行業(yè)領(lǐng)域?qū)Ξa(chǎn)品測(cè)試的必不可少的一項(xiàng)環(huán)境試驗(yàn)箱。
 
      1、高溫貯存
      電子元器件的失效大多數(shù)是由于體內(nèi)和表面的各種物理化學(xué)變化所引起，它們與溫度有密切的關(guān)系。溫度升高以后，化學(xué)反應(yīng)速度大大加快，失效過(guò)程也得到加速。使得有缺陷的元器件能及時(shí)暴露，予以剔除。
      高溫篩選在半導(dǎo)體器件上被廣泛采用，它能有效地剔除具有表面沾污、鍵合不良、氧化層有缺陷等失效機(jī)理的器件。通常在最高結(jié)溫下貯存24~168小時(shí)。
      高溫篩選簡(jiǎn)單易行，費(fèi)用不大，在許多元器件上都可以施行。通過(guò)高溫貯存以后還可以使元器件的參數(shù)性能穩(wěn)定下來(lái)，減少使用中的參數(shù)漂移。各種元器件的熱應(yīng)力和篩選時(shí)間要適當(dāng)選擇，以免產(chǎn)生新的失效機(jī)理。
 
      2、功率電老煉
      篩選時(shí)，在熱電應(yīng)力的共同作用下，能很好地暴露元器件體內(nèi)和表面的多種潛在缺陷，它是可靠性篩選的一個(gè)重要項(xiàng)目。
      各種電子元器件通常在額定功率條件下老煉幾小時(shí)至168小時(shí)，有些產(chǎn)品，如集成電路，不能隨便改變條件，但可以采用高溫工作方式來(lái)提高工作結(jié)溫，達(dá)到高應(yīng)力狀態(tài)，各種元器件的電應(yīng)力要適當(dāng)選擇，可以等于或稍高于額定條件，但不能引人新的失效機(jī)理。
      功率老煉需要專(zhuān)門(mén)的試驗(yàn)設(shè)備，其費(fèi)用較高，故篩選時(shí)間不宜過(guò)長(zhǎng)。民用產(chǎn)品通常為幾個(gè)小時(shí)，軍用高可靠產(chǎn)品可選擇 100、168小時(shí)，宇航級(jí)元器件可以選擇240小時(shí)甚至更長(zhǎng)的周期。
 
      3、溫度循環(huán)
      電子產(chǎn)品在使用過(guò)程中會(huì)遇到不同的環(huán)境溫度條件，在熱脹冷縮的應(yīng)力作用下，熱匹配性能差的元器件就容易失效。溫度循環(huán)篩選利用了極端高溫和極端低溫間的熱脹冷縮應(yīng)力，能有效地剔除有熱性能缺陷的產(chǎn)品。元器件常用的篩選條件是－55～+125℃，循環(huán)5~10次。
 
      4、元器件篩選的必要性
      電子元器件的固有可靠性取決于產(chǎn)品的可靠性設(shè)計(jì)，在產(chǎn)品的制造過(guò)程中，由于人為因素或原材料、工藝條件、設(shè)備條件的波動(dòng)，最終的成品不可能全部達(dá)到預(yù)期的固有可靠性。在每一批成品中，總有一部分產(chǎn)品存在一些潛在的缺陷和弱點(diǎn)，這些潛在的缺陷和弱點(diǎn)，在一定的應(yīng)力條件下表現(xiàn)為早期失效。具有早期失效的元器件的平均壽命比正常產(chǎn)品要短得多。電子設(shè)備能否可靠工作的基礎(chǔ)是電子元器件能否可靠地工作。如果將早期失效的元器件裝上整機(jī)、設(shè)備，就會(huì)使得整機(jī)、設(shè)備的早期失效故障率大幅度增加，其可靠性不能滿(mǎn)足要求，而且還要付出極大的代價(jià)來(lái)維修。因此，應(yīng)該在電子元器件裝上整機(jī)、設(shè)備之前，就要設(shè)法把具有早期失效的元器件盡可能地加以排除，為此就要對(duì)元器件進(jìn)行篩選。根據(jù)國(guó)內(nèi)外的篩選工作經(jīng)驗(yàn)，通過(guò)有效的篩選可以使元器件的總使用失效率下降1- 2個(gè)數(shù)量級(jí)，因此不管是軍用產(chǎn)品還是民用產(chǎn)品，篩選都是保證可靠性的重要手段。
 

      武漢金測(cè)檢測(cè)技術(shù)有限公司采用恒溫恒濕試驗(yàn)箱或高低溫試驗(yàn)箱對(duì)電子元器件進(jìn)行高低溫試驗(yàn)，這兩種設(shè)備也是檢驗(yàn)電子產(chǎn)品，材料、電工、儀器儀表的各種性能指標(biāo)重要設(shè)備。通過(guò)高低溫試驗(yàn)可以測(cè)試產(chǎn)品零件、材料可能發(fā)生軟化、效能潛在破壞、氧化等現(xiàn)象，從而改進(jìn)產(chǎn)品質(zhì)量。
 

武漢金測(cè)實(shí)驗(yàn)室恒溫恒濕試驗(yàn)箱

 
主要技術(shù)參數(shù)（標(biāo)箱）：
內(nèi)箱尺寸（D*W*H）：100*100*100cm
箱體內(nèi)容積：1000L
溫度范圍：-70℃～150℃
濕度范圍：25%～95%RH
升溫速率：-70℃～150℃：3.5℃/min（30kg鋁錠）； 
降溫速率：+150℃～-70℃：1.5℃/min（30kg鋁錠）；
最大電熱負(fù)載：(60℃，95%RH),2000W
 
      武漢金測(cè)檢測(cè)技術(shù)有限公司擁有專(zhuān)業(yè)檢測(cè)人員和先進(jìn)的環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備，且價(jià)格優(yōu)惠、報(bào)告準(zhǔn)確。檢測(cè)設(shè)備專(zhuān)業(yè)，檢測(cè)范圍廣，可做高低溫、恒定濕熱、交變濕熱、鹽霧等方面的測(cè)試，出具權(quán)威的測(cè)試報(bào)告，確保實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)真實(shí)可追溯。同時(shí)，我司還能為客戶(hù)提供環(huán)境與可靠性的測(cè)試設(shè)備租賃與出售服務(wù)，欲了解更多測(cè)試細(xì)節(jié)或有產(chǎn)品做高低溫測(cè)試可隨時(shí)聯(lián)系我們，電話(huà)027-81526660。